ARL? QUANT'X EDXRF 光譜儀
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X簡介:
在幾分鐘內(nèi)即可獲得幾乎任何樣品的成分?jǐn)?shù)據(jù)。Thermo Scientific? ARL? QUANT'X EDXRF光譜儀提供*大范圍的樣品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大塊固體、顆粒、粉末、薄膜和液體。這款臺式 EDXRF（能量色散 X 射線熒光）系統(tǒng)配備無標(biāo)樣軟件和配件，可滿足中心實驗室、合同實驗室以及環(huán)境監(jiān)測、化工、采礦、法醫(yī)、食品、電子、水泥以及金屬行業(yè)的元素分析需求。
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X描述:
ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀提供元素分析的*限性能、多用途和可靠性。其緊湊的臺式設(shè)計、緊密耦合光學(xué)器件以及**的電子冷卻檢測器，讓我們能夠在從 ppm 到百分比元素濃度的廣泛動態(tài)范圍內(nèi)獲得無以倫比的分析精 確度。
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X的功能變得更加強(qiáng)大！除了 Peltier 冷卻 Si(Li) 檢測器，現(xiàn)在該儀器還安裝了厚 1mm、面積 30mm2 的 SDD – SDD1000。SDD 能夠以出色的分辨率處理高計數(shù)率，而且通常比 Si(Li) 檢測器薄得多。常見厚度為 0.45mm，更高能量下的檢測效率較差。ARL QUANT’X 中的新型 SDD1000 的厚度增加一倍以上，達(dá)到 1mm。與基于 Si(Li) 的 ARL QUANT’X 相比，SDD1000 版本在周期表中表現(xiàn)出更好的靈敏度，檢測*限增加到原來的 2 倍，還適用于 Cd 和 Sn 等重金屬元素。另外，計數(shù)時間還可以減少為原來的 1/4！新型 SDD1000 結(jié)合了 SDD 和 Si(Li) 檢測器的優(yōu)點。
**的技術(shù)
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Peltier Si(Li) 冷卻檢測器 或者 1mm 厚的硅漂移檢測器 (SDD)。
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數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù)。
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高性能、多元素分析。
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選配的 Thermo Scientific? UniQuant? 軟件可提供優(yōu)良的無標(biāo)樣分析。
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X主要特點
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**的痕量分析靈敏度。
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高測量吞吐量，適合過程控制。
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**的非典型材料分析算法。
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出色的樣品處理靈活性。
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機(jī)械簡單性和可靠性。
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緊湊、占地面積小，便于運輸，適合現(xiàn)場測量。
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快速、簡單的安裝，全 面的現(xiàn)場定制化。
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包含完整的實驗室啟動包。
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可進(jìn)行空氣、真空和氦氣中的樣品分析。
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經(jīng)過驗證的硬件和一體化的軟件。
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現(xiàn)場協(xié)作式方法**。
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全 面的技術(shù)應(yīng)用支持。
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成百上千種應(yīng)用的**知識。
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大樣品室、攝像機(jī)以及各種范圍的準(zhǔn)直器。
功能強(qiáng)大、簡單易用的 Thermo Scientific? WinTrace? 軟件
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無標(biāo)樣和半無標(biāo)樣分析。
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含標(biāo)準(zhǔn)樣品的基本參數(shù) (FP) 和經(jīng)驗方法。
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多層厚度和成分。
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無限制的元素，無限制的標(biāo)準(zhǔn)品數(shù)量。
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多種激發(fā)條件，帶自動化操作。
選配的 UniQuant **無標(biāo)樣分析
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比任何其他 FP 分析更進(jìn)一步，可選的 UniQuant 程序收集從氟到鈾的所有可能元素發(fā)出的所有譜線。這種完整的樣品光譜曲線讓 UniQuant 能夠自動校正所有可能的重疊和背景效應(yīng)。這些效應(yīng)在能量色散光譜中尤為復(fù)雜。
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始終可以分析所有元素。
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每份樣品的獨特物理特性，例如面積、厚度和質(zhì)量均納入計算。
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校正 X 射線管輸出的長期變化。
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多種多樣的可選報告級別和格式，可以為任何類型的用戶清楚地呈現(xiàn)結(jié)果。
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UniQuant 在出廠時經(jīng)過全 面預(yù)先校準(zhǔn)，可開箱即用。
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X推薦用途
氣溶膠微粒過濾器
對塑料中的有毒元素進(jìn)行 RoHS / WEEE 篩選
法醫(yī)和痕量元素分析
營養(yǎng)補(bǔ)充劑
磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體
土壤污染和其他環(huán)境篩選
冷卻水回路的腐蝕監(jiān)測
水泥、飼料和替代燃料
冶金爐渣和礦石開采
廢泥漿和廢油
過濾器薄膜
珠寶、貴金屬和首飾分析
